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金屬表面酸化度如何進(jìn)行管理?
利用振動(dòng)電容法(開爾文探針)對因電暈放電而在固體表面放置的電荷引起的表面電位變化進(jìn)行非接觸測量,定量測定金屬等基材表面的污染程度評估。
測量可以在幾分鐘內(nèi)完成,因此它不僅可以用于清潔工藝開發(fā),還可以用于生產(chǎn)線上零件的表面清潔度控制。
由于表面電位衰減曲線取決于薄膜的電性能和膜厚,因此也可用于控制絕緣體薄膜的厚度、金屬表面氧化層的厚度以及DLC薄膜的質(zhì)量控制。
測量探頭直徑 | φ6.35mm |
測量距離 | 1-3mm(標(biāo)準(zhǔn)) |
表面電位測量范圍 | ±100V直流 |
表面電位分辨率 | 1毫伏 |
電暈放電電壓 | 最大10kV |
測量頭 (WxDxH) | 118x106x150(毫米) |
控制器(寬 x 深 x 高) | 343x296x134(毫米) |
表面電位測量電源(WxDxH) | 223x370x108(毫米) |
筆記本電腦 | - |
噴墨打印機(jī) | - |
對銅合金、鋁合金、引線框架材料、鍍鎳等自然氧化層和強(qiáng)制加熱氧化層可實(shí)現(xiàn)工藝內(nèi)定量控制。